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超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀 M4 TORNADO PLUS

品 牌:Bruker

産 地:德國

型 号:M4 TORNADO PLUS

關鍵詞标簽:微區X射線熒光光譜儀,M4 TORNADO PLUS,X射線熒光成像光譜儀,微區XRF
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M4 TORNADOPLUS - 微區X射線熒光成像的新紀元

M4 TORNADOPLUS是世界上第yi台能夠檢測出C(6)-Am(95)間全部元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

作為微區X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的zui新産品,M4 TORNADOPLUS又增添了獨特的功能,例如創新性的孔徑管理系統,高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品台。

更輕、更快、更深

M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積矽漂移探測器(SDD)實現對輕元素碳的檢測,超高通量脈沖可以zui大程度提升采樣速度,BRUKER專利孔徑管理系統(AMS)可以獲取超大景深,對表面不平整樣品分析具有獨特的優勢。

超輕元素檢測

M4 TORNADOPLUS是史上第yi台能夠檢測分析輕質元素碳的微區X射線熒光成像光譜儀,具備兩個具有超輕元素窗口的大面積矽漂移探測器和一個特别優化的Rh靶X射線光管。

與普通微區X射線熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量範圍内元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。

随着功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應用也正在開發和拓展中,例如地質學、礦物學、生物學、聚合物研究或半導體行業等方向。

應用實例-螢石和方解石的區分

螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區别在于分别存在輕質元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微區X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無法區分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都隻會顯示Ca元素譜線。

利用超輕元素探測器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而可靠地鑒别這兩種礦物。

圖:鑒别螢石與方解石 

左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像尺寸:20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels             

右:螢石(藍)和方解石(紅)的輕質元素光譜圖。

應用實例-電路闆

由于AMS的場深度極深,如圖所示電路闆的X射線圖像獲得更多的細節。此外,由于激發X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那麼明顯。

圖:具備AMS與不具備AMS的電路闆元素分布圖

左圖: 标準多導毛細管聚焦在電路闆上,元件的zui高點失焦,顯得模糊。

右圖: AMS系統加載下圖像顯示高景深,所有組件聚焦在更大的景深範圍内。

 

 

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